STIL光学传感器为全球各个行业提供更好的质量控制,我们的产品系列适合于各种应用,为更高的质量标准提供可靠的控制和检测。1995年推出点光谱共焦传感器,2005年创新推出线光谱共焦传感器,2015出现线光谱共焦相机,通过持续创新,2025年将推出适用于工业4.0智能解决方案。在严苛的工业环境下客户要求速度、精度、质量和安全满足的同时,也要求减少对环境的影响和降低成本,这正是STIL传感器产品系列具有的优势。适用于任何材料同轴共焦原理兼容任何折射,同轴共焦原理,易于工业集成,大角度测量,符合ISO25178-602标准。光谱共焦的特点:1.共焦对环境光不敏感可过滤杂波;2.彩色光谱在测量范围内形成彩色光谱,各种景深3.光谱仪通过嵌入式光谱仪对反射或漫反射进行光谱分析,快速并精确4.同轴同轴光学设计,无阴影影响。可靠、精确、超高分辨率的尺寸测量;高速在线解决方案;适用各种材料和环境;优于传统测量方案的其他特性,如:大角度测量,亚微米级精度,测量多层厚度。马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器。上海3D 视觉测量传感器技术
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汽车行业汽车是现代工业自动化的产物。汽车行业高速发展,汽车各个部件的生产制造过程中,涉及到各种各样的测量、识别、分选和检查,例如微小工件尺寸的精确测量,工件装配的段差和间隙的测量,产品包装上的条码和字符识别等。它们可能具有以下一些特点:高速大批量检测、检测精度要求高、被测对象尺寸微小等。在上述的这些情况下,利用人工无法连续稳定的进行检测;另外,每个人的判断标准不统一也导致检测结果的不一致。这时,人们开始考虑把利用相机镜头来代替人类视觉并结合图像处理技术来实现检测,于是形成了一门新学科----机器视觉。光谱共焦传感器运用高分辨率线性相机(亚微米探测)和高扫描速度,满足了汽车制造过程对精度和速度的要求。上海stil传感器解决方案光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,用户的信赖之选,有需求可以来电咨询!
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多个产品同时测量减少成本测量对象可任意摆放,多个产品可同时测量,**节省测量时间,减少用工成本!低畸变图像无变形即便在镜头边缘部位测量,图像畸变也很小,无需担心测量对象所放位置。缺陷过滤测量位置包含有毛边或缺陷时系统能自动识别,排除异常点提高测量的准确度。数据追溯管理更简单测量结果自动保存,可按测量日期、产品名称、产品料号等信息搜索,数据追溯管理简单优势:测量更准确采用双倍率双侧远心光学镜头,具有较高的远心度,即使有段差情况下也能高精度正确的测量。倍率涵盖0.16X大视野/0.7X高精度。
测量状态指示灯包含三个LED信号灯,分别显示系统错误、光信号强度和量程预警。系统错误信号灯指示传输数据是否过载,光信号强度指示灯显示当前光强信号是否超过5%,而量程预警指示灯则显示测量样品是否在量程范围内。系统错误信号灯正常状态为关闭状态,即不显示任何颜色光。但当使用RS232或RS422接口同时传输数据时,测量频率和传输数据格式都可能影响数据传输量。当传输数据量过载时,该信号灯点亮为红色状态,此时则应该适当降低测量频率或更改数据传输格式。此外,选用USB方式传输则会较少遭遇数据过载情况。马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器,有想法可以来我司咨询!
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医疗行业随着社会发展,越来越多行业对微观物体表面形貌观测的要求也越来越高,与生命健康有着**紧密关系的医学行业就是其中之一。但由于普通显微镜的固有特性,只有聚焦区域内的图像成像清晰,非聚焦区域内侧图像成像模糊。因此普通显微镜无法实现在同一景深中对物体表面形貌的全聚焦,更不能重构其三维结构。但是,利用光谱共焦技术,可以实现显微物体三维形貌的重构。看如下司逖光谱共焦传感器在医学领域的应用:人类皮肤测量人类牙齿测量眼部植入剂点对点厚度测量, 2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量。上海Marposs 传感器应用案例
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所有不同波长的可见光重叠在一起,形成白光。人类肉眼可见光的波长范围从400nm(蓝光)到700nm(红光)。通过透镜,不同颜色的光不会聚焦到同一个点上。这种现象称为色差透镜错误或者叫色差透镜偏差。众所周知,自然界的日光属白光一种,白光不是纯洁的光,而是许多单色光组成的。光在不同介质中传播可能会有角度偏差的现象产生,而实际的白光照射下不同介质将有很多单线光的折射。光学材料(透镜)对于不同单色光的折射率是不同的,也就是折射角度不同波长愈短折射率愈**长愈长折射率愈小(这也是不同望远镜所谓的色差不同的原因),同一薄透镜对不同单色光,每一种单色光都有不同的焦距,按色光的波长由短到长,它们的像点离开透镜由近到远地排列在光轴上(不同的单色光的波长是不同的)这样成像就产生了所谓色差透镜错误。色差透镜错误使成像产生色斑或晕环。在摄影器材中,应通过特殊处理,尽量消减色差透镜错误导致的成像问题。常用的消除方法有双胶合系统与双分离系统。上海3D 视觉测量传感器技术
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